測量環境條件對量測結果的影響，貼片陶瓷電容(X7R/X5R/Y5V)系列産品被稱爲非溫度補償性元件,即在不同的工作溫度環境下,電容量會有比較顯著的變化，在不同的工作溫度下，電容標稱容值與實際容值之間的差異。例如，在40℃時的測試容量將比25℃時的測試容量低了接近20%。由此可以看出，在外部環境溫度比較高的情況下,電容容值的測試值就會顯的偏低。我們通常建議放置在20℃的環境下一段時間,使材料處于穩定的測試環境下再進行容值測試。

    MLCC産品材料老化现象材料老化是指电容的容值随着时间降低的现象，这再所有以铁电系材料做介电质的材料産品中均有发生，是一种自然的不可避免的现象。原因是因为内部晶体结构随温度和时间产生了变化导致了容值的下降，属于可逆现象。当对老化的材料施加高于材料居里温度段时间后(建议进行容值恢复所使用之条件为150℃/1hour)，当环境温度恢复到常温后(常温25℃下放置24小时),材料的分子结构将会回到原始的状态。材料将由此开始老化的又一个循环，贴片电容的容值将恢复到正常规格之内。